TB230621S11 자기 제어/카운터 제어 원리 교육 키트 교훈 장비 전기 실험실 장비 제품 설명:
이 실험 상자는 자기 제어/카운터 제어 2-in-1 교육 실험 시스템입니다. 모듈형 구조를 채택하여 다양한 종류와 순서의 아날로그 링크 및 제어 시스템을 구성할 수 있습니다. 또한 마이크로컴퓨터를 제어 플랫폼으로 사용하여 컴퓨터 제어 기술의 실험적 교육을 수행하여 다목적을 달성할 수도 있습니다. 시스템 구성
1. 전원 공급 장치:
입력 단상 3선 ~ 220V ± 10% 50Hz. 출력 DC 5/2A, ±12V/0.5A 전원 공급 장치, 역방향 및 단락 보호 기능 포함. 2. 핵심 시스템:
컴퓨터 제어 기술 소프트웨어 프로그래밍을 용이하게 하기 위해 8088 마이크로프로세서를 채택합니다.
RS232 버스 인터페이스는 호스트 컴퓨터(USB 인터페이스와 통신 가능)와 통신합니다. 여기에는 상위 컴퓨터 전체 지우기 재설정 및 수동 전체 지우기 재설정 회로가 포함되어 있습니다.
자동 잠금 제로 및 수동 잠금 제로 기능을 포함합니다. 3. 함수 발생기:
실험 상자에는 신호 전압(-5V ~ +5V), 주파수, 온도, 속도 및 기타 매개변수를 측정할 수 있는 신호 측정 및 신호 표시 모듈이 함께 제공됩니다. 4. 단계 신호 발생기:
수동 단계(0/+5v, -5v/+5v), 진폭 제어(전위차계) 및 비선형 출력 그룹에 의해 생성됩니다.
5. 기능 신호 발생기:
정현파, 경사파, 구형파, 구형파, 릴레이 특성, 포화 특성, 데드존 특성, 갭 특성을 출력할 수 있습니다. 스위치가 있어요
스위칭 및 디지털 튜브는 파형 관련 정보를 표시합니다. 사인파 신호 주파수 범위는 0.1HZ~2HZ 및 0.8HZ ~ 50HZ이고 해상도는 0.1HZ 및 1HZ입니다. 다른 파형 주파수 범위는 0.1HZ~250HZ이고 분해능은 0.1HZ입니다. 진폭 범위
파형 신호의 -6V~+6V, 진폭 분해능은 0.1V, 왜곡은 0.5% 이하, 임피던스는 50Ω 이하입니다. 6. 운영 시뮬레이션 유닛: 8개의 OP07 기본 연산 증폭기 아날로그 장치(실험용) 제공, 각 장치의 입력 루프에는 0.5% 정밀 저항기 또는 5% 정밀 커패시터의 6세트가 있고 피드백 루프에는 0.5% 정밀 저항기 또는 5% 정밀 커패시터의 7세트가 있습니다. , 하나의 연산증폭기가 구성된다. 또 다른 확장된 연산 증폭기 아날로그 장치는 가변 널 증폭기이며 비례 링크, 관성 링크, 적분 링크, 비례 차동 링크, PID 링크 및 일반적인 2차, 3차 시스템 등을 구성합니다. 두 번째는 수정 네트워크 라이브러리이며 다양한 수정 링크를 형성할 수 있습니다. 세 번째는 두 세트의 성형 모듈입니다.
7. 저항-커패시턴스 요소 라이브러리 제공:
250K 및 500K 전위차계, 0-999.9K 직접 판독 가변 저항기 2세트, 여러 커패시터 세트.
8. D/A 출력 1세트:
전압: 0~5V 또는 -5V~+5V
9. 4채널 A/D 입력:
0~+5v 전압 입력이 있는 2개의 채널과 -5v~+5v 전압 입력이 있는 2개의 채널이 있습니다.
10. 샘플 홀더 2세트 및 원샷 유닛 회로
11. 정밀 기준 전압 +Vref 및 -Vref 제공
12. 타이밍 및 인터럽트 장치:
타이머 카운터 2세트 및 양방향 인터럽트 소스. 13. 가상 오실로스코프 제공:
1) 아날로그 신호 입력 2채널: 위상 평면 표시, 주파수 영역 대수 진폭 주파수, 위상 주파수 곡선, 진폭 위상 곡선 등을 측정할 수 있습니다.
2) 오실로스코프의 시간 영역 디스플레이 모드: 오실로스코프의 위상 평면 디스플레이(X-Y) 모드;
오실로스코프의 주파수 특성 표시 모드에는 대수 진폭 주파수 특성 표시, 대수 위상 주파수 특성 표시(보드 다이어그램), 진폭 위상 특성 표시 모드(나이퀴스트 다이어그램), 시간 영역 분석(라디안) 표시 모드가 포함됩니다. 3) 오실로스코프의 컴퓨터 제어 디스플레이 모드.
14. 주변 제어 개체:
1) 스테핑 모터(35BY48) 속도 및 각도 제어.
2) DC 모터(BY25) 펄스 속도 출력 및 전압 속도 출력.
3) 온도 모듈 조정 가능한 펄스 폭 입력 제어 및 전압 입력 제어 가열, 서미스터 온도 측정 (0 ℃ ~ 76.5 ℃).
15. 보조 개발 지원:
아날로그 연산 장치 및 함수 발생기 외에도 8253 타이머, 8259 인터럽트 컨트롤러, 아날로그-디지털 변환기, 실험 상자의 디지털-아날로그 변환기 주소도 사용자에게 공개됩니다.
16. 실험 상자:
알루미늄-알루미늄 합금 소재를 채택했으며 기준 크기는 480 × 360 × 100mm입니다.
교육 과정:
자동제어 실험
1. 선형 시스템의 시간 영역 분석:
1) 일반적인 링크의 시뮬레이션 연구
2) 2차 시스템 과도 응답 및 안정성
3) 3차 시스템 과도 응답 및 안정성
2. 선형 제어 시스템의 주파수 영역 분석(보드 다이어그램, 네스 다이어그램):
1) 관성링크의 주파수 특성곡선
2) 2차 폐루프 시스템의 주파수 특성 곡선
3) 2차 개루프 시스템의 주파수 특성 곡선
4) 주파수 특성의 시간 영역 분석
3. 비선형 시스템의 위상 평면 분석:
1) 일반적인 비선형 링크
2) 2차 비선형 제어 시스템
3) 3차 비선형 제어 시스템
4. 선형 시스템에 대한 교정 및 상태 피드백:
1) 선형 시스템의 수정
①주파수 영역법 계열 리드 보정
②시간영역법 계열비례미분보정
③시간 영역 방식 비례 피드백 보정
④시간 영역 방법 미분 피드백 보정
2) 선형 시스템의 상태 피드백 및 극 배치
5. 샘플링 제어 시스템 분석
6. DC 모터 폐쇄 루프 속도 조절 실험 시뮬레이션
7. 온도 폐쇄 루프 제어 실험 시뮬레이션
컴퓨터 제어 기술 실험
1. 디지털/아날로그 변환 실험
2. 아날로그/디지털 변환 실험
3. 샘플링 및 보관:
1) 샘플링 실험
2) 샘플링/홀더 실험
3) 샘플링/홀딩 제어 시스템 분석 예
4. 평활화 및 디지털 필터링 실험:
1) 미분과 부드러움
2) 디지털 필터링
5. 디지털 PID 제어 실험:
1) 표준 PID 제어 알고리즘
2) 적분분리 PID 제어 알고리즘
3) 비선형 PID 제어 알고리즘
4) 통합 분리 - Bang-Bang 복합 PID 제어 알고리즘
6. 최소 비트 제어 시스템:
1) 최소 비트 리플 시스템
2) 최소 비트 리플 프리 디자인
3) 최소 비트 제어 시스템 설계 예
7. Dalin 알고리즘:
1) 명백한 링잉 현상과 링잉 제거 기능을 갖춘 Dalin 알고리즘
2) 약한 링잉 및 링잉 제거 기능을 갖춘 Dalin 알고리즘
3) 링링이 없는 Dalin 알고리즘
8. 다변수 디커플링 제어:
1) 다변수 디커플링 제어 설계
2) 다변수 디커플링 제어 설계
9. 마이크로컴퓨터 제어 2차 개발
제어 시스템 실험
1. DC 모터 폐루프 속도 조절 실험
2. 온도 폐루프 제어 실험
3. 스테퍼 모터 속도 제어 실험
4. 아날로그/디지털 혼합 온도 폐쇄 루프 제어 실험
